Candela 8420是*種表面缺陷檢測系統(tǒng),它使用多通道檢測和基于規(guī)則的缺陷分類,對不透明、半透明和透明晶圓(如砷化鎵、磷化銦、鉭酸鋰、鈮酸鋰、玻璃、藍(lán)寶石和其他化合物半導(dǎo)體材料)提供微粒和劃痕檢測。 8420表面缺陷檢測系統(tǒng)采用了專有的OSA(光學(xué)表面分析儀)架構(gòu),可以同時測量散射強(qiáng)度、形貌變化、表面反射率和相位變化,從而對各種關(guān)鍵缺陷進(jìn)行自動檢測與分類。只需幾分鐘即可完成全晶圓檢測,并生成高分辨率圖像和自動化檢測報告,同時附帶缺陷分類和晶圓圖。